Сверхтвердые материалы: рентгенографические, электронно-микроскопические и дериватографические методы исследования сверхтвердых материалов: практикум
Полушин Н.И., Кучина И.Ю., Маслов А.Л.
В практикуме рассмотрены методики решения задач по рентгеноструктурному анализу, электронной микроскопии, анализу дефектов кристаллического строения и методу дериватографического анализа. Практикум предназначен для студентов, обучающихся по направлению 150100 «Материаловедение и технологии материалов» и по специальностям 150701 «Физико-химия процессов и материалов», 210602 «Наноматериалы», а также для студентов других направлений, преподавателей, аспирантов и слушателей курсов повышения квалификации.;Гриф:Допущено Учебно-методическим объединением высших учебных заведений РФ по образованию в области материаловедения, технологии материалов и покрытий в качестве учебного пособия для студентов высших учебных заведений, обучающихся по направлению подготовки бакалавров и магистров 150100 «Материаловедение и технологии материалов» и специальности 150701 «Физико-химия процессов и материалов»
Yıl:
2014
Yayımcı:
Издательство "МИСИС"
Dil:
russian
Sayfalar:
57
ISBN 10:
5876237965
ISBN 13:
9785876237965
Dosya:
PDF, 28.36 MB
IPFS:
,
russian, 2014